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發(fā)布時(shí)間：2012/5/8
點(diǎn)擊次數(shù)：1208
低阻抗分析儀/表面阻抗測(cè)試儀 型號(hào):DP-MCP-T370
四探針?lè)桨?觸式度的各種材料的表面電阻率測(cè)量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕，確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量能，可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測(cè)試值的準(zhǔn)確性。
測(cè)量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)器。
 規(guī)格 | |
| 測(cè)量方法 | 四端四探針?lè)?/font> 施加恒定電流的方法 |
| 測(cè)量范圍 | 10 -2?10 6 Ω |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 四探針探頭（ASP）AC適配器 說(shuō)明書 檢查確認(rèn)書 |
| 選項(xiàng) |
 探頭選項(xiàng) | ||
| 類型 | 適用被測(cè)試樣品 | 型號(hào) |
| ESP | 對(duì)于異類樣本 | MCP - TP08P |
| PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
| QPP | 對(duì)于小樣本 | MCP - TPQPP |
| TFP | 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
 校準(zhǔn)塊 | 型號(hào)：MCP - TRF1 |
當(dāng)前位置：
